Nikon外观检查显微镜
产品描述
| ◎ | 开发背景:因应电子半导体, IC-PACKAGE, 封装FPD (TFT, STN, LED, OLED)光电业, 电子部品, PCB, 材料, 金相组织等产业。 |
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专用于金属表面观察与照相 |
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多种镜筒选择 , 双眼与三眼。并可调整仰角 (8° -32° ) |
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beam splitter 分光设计 , 可同时连接照相系统与 CCD camera 、 TV 系统 |
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Nikon CFI60/ICOS 高解像力光学系统设计 |
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摺叠式镜筒 , 调整瞳孔距离时 , 共焦不变 |
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采用消色差、消球面差之超低散射高级光学镜片 |
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高对焦精度 1um 及共焦性 |
| ◎ | 可选择标准镜筒 ( 视野数 22) 与超广角镜筒 ( 视野数 25) |
| ◎ | 可选择全新 CFI60/ICOS 明视野与干涉相位差镜头 |
| ◎ | 高精度测微器最小读取值 0.1um |
| ◎ | 可加装 Nikon 数位相机 |
| ◎ | 具底部光源机型 LV100D 可供选择
‧ 标准光源为 12V50W 卤素灯源 |
| ◎ | 具光源及焦聚 Luck 功能 |
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