|
|
|
|
|
|
Nikon外观检查显微镜
|
型号︰ | LV-150 |
品牌︰ | NIKON |
原产地︰ | 日本 |
最少订量︰ | 1 件 |
|
|
|
|
|
◎ |
开发背景:因应电子半导体, IC-PACKAGE, 封装FPD (TFT, STN, LED, OLED)光电业, 电子部品, PCB, 材料, 金相组织等产业。 |
◎
|
专用于金属表面观察与照相
|
◎ |
多种镜筒选择 , 双眼与三眼。并可调整仰角 (8° -32° )
|
◎ |
beam splitter 分光设计 , 可同时连接照相系统与 CCD camera 、 TV 系统
|
◎ |
Nikon CFI60/ICOS 高解像力光学系统设计
|
◎ |
摺叠式镜筒 , 调整瞳孔距离时 , 共焦不变
|
◎ |
采用消色差、消球面差之超低散射高级光学镜片
|
◎ |
高对焦精度 1um 及共焦性
|
◎ |
可选择标准镜筒 ( 视野数 22) 与超广角镜筒 ( 视野数 25) |
◎ |
可选择全新 CFI60/ICOS 明视野与干涉相位差镜头 |
◎ |
高精度测微器最小读取值 0.1um |
◎ |
可加装 Nikon 数位相机 |
◎ |
具底部光源机型 LV100D 可供选择
‧ 标准光源为 12V50W 卤素灯源 |
◎ |
具光源及焦聚 Luck 功能 |
|
|
|
|
产品图片
|
|
相关产品
|
|
|
|
|
|
|